一.简介:
ST-50型冲击试样缺口投影仪,是根据广大用户的实际需求和GB/T229-94«金属夏比缺口冲击试验方法»中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种检察夏比V 型和U 型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投影到投影屏上,与投影屏上冲击试样V 或U型缺口标准样样板图对比,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是 操作简便,检查对比真观,效率高。
该仪器还可用于机械零件的外形轮廓,防治物纤维,生物切片分析,工量刀具检验,仪表元件和半导体器件的投影检测,操作简便,检查对比直观、效率高;
二.主要参数
1. 投影屏直径:180mm
2. 工作台尺寸: 方工作台尺寸:110*125mm
园工作台直径:90mm
工作台玻璃直径:70mm
3. 工作台行程:
纵向:±10mm
横向:±10mm
升降: ±12mm
4. 工作台转动范围:0~360º
5. 仪器放大倍率:50X
物镜放大倍率:2.5X
投影物镜放大倍率:20X
6. 光源(卤钨灯):12V
7. 电源:220V 50HZ
8. 外形尺寸:515*224*603mm
9. 重量:约18kg